快速溫變控溫卡盤MD
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MD在熱測試方面的創新是熱控制卡盤系列,主要用于半導體晶片的性能測試、建模、工藝開發、設計缺陷或IC故障分析。可以實現快速溫度變化,精準控制溫度。系統本身自帶制冷機,避免了液氮、二氧化碳等的消耗,每個系統均包含了卡盤和冷熱控制單元
MD在熱測試方面的創新是熱控制卡盤系列,主要用于半導體晶片的性能測試、建模、工藝開發、設計缺陷或IC故障分析。可以實現快速溫度變化,精準控制溫度。系統本身自帶制冷機,避免了液氮、二氧化碳等的消耗,每個系統均包含了卡盤和冷熱控制單元